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雾之祥

至尊木虫 (著名写手)

[求助] XRD 摇摆曲线的问题 (薄膜专业)已有3人参与

各位大神,小弟有关于XRD 摇摆曲线的问题想要请教大家。如果有一试验薄膜,是Cu3N生长在非晶glass上,有所谓的XRD 摇摆曲线测试这个说法吗?有的话该如何测试呢。

如果Cu3N薄膜外延生长在单晶上,且外延生长质量还不错,那么摇摆曲线又是怎么测试呢?

按照我暂时的拙劣理解:如果薄膜在单晶上外延生长比较好,那么采用omega/2theta扫描形式扫描摇摆曲线。假设我想看Cu3N(111)晶面(2theta=40.893°)的FWHM,我仅仅是将2theta角设定为35.893°~45.893°,然后扫描形式选择为omega扫描?这样跟我做theta-2theta从20°~80°的out-of-plane面外扫描有啥区别呢?完全就是一回事嘛,只不过扫描速度不一样罢了???

小弟试探性的测试了Cu3N在glass上的omega扫描(2theta角设定为35.893°~45.893°),无峰。
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雾之祥

至尊木虫 (著名写手)

还是谢谢各位工作繁忙的大神了,经过导师和网上一位热心肠的博士指导后小弟暂时是懂了点了……
2楼2014-04-08 16:18:00
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雾之祥

至尊木虫 (著名写手)

引用回帖:
3楼: Originally posted by hsl1987 at 2014-04-24 00:47:59
实际上就是指那个半高宽的大小。

谢谢您了。半高宽,这个说法还是有点太广泛了,其实本质就是半高宽,但是测试方法或是解释却是南辕北辙,各有各的说辞的。至少经过我的实验测试omega-scan后我再也不敢随便认为我Jade上读出的半高宽是那么简单的事儿了。
4楼2014-04-24 10:27:05
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雾之祥

至尊木虫 (著名写手)

引用回帖:
6楼: Originally posted by 迷迭咖啡影 at 2015-08-27 16:42:23
求教同样问题,请问楼主能详细讲解X射线ω扫描测试的原理吗?非常感谢

ω扫描测试,即摇摆曲线的获取,方法是:保持入射X光不变,探测器保持不变,同时入射光同探测器之间的夹角也保持不变(固定在2theta)。然后样品围绕着平行于样品表面的一根轴(此轴也垂直于由入射光和探测器两相交直线构成的平面)来回转动,用来描述某一特定晶面在样品中角发散大小的测试方法。

希望对你有所帮助。
7楼2015-08-27 22:24:57
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雾之祥

至尊木虫 (著名写手)

引用回帖:
8楼: Originally posted by 迷迭咖啡影 at 2015-09-01 15:54:52
还是不大明白,根据你说的“假设Cu3N(111)晶面(2theta=40.893°)的FWHM,我仅仅是将2theta角设定为35.893°~45.893°,然后扫描形式选择为omega扫描?”既然是做ω扫描,那么2θ角度应该是固定的布拉格散射角θ ...

ω应该是指2theta/2的那个角度值。
10楼2015-09-02 18:37:00
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雾之祥

至尊木虫 (著名写手)

引用回帖:
12楼: Originally posted by 迷迭咖啡影 at 2015-09-02 20:34:09
1)据我最新理解,ω扫描是固定布拉格衍射角θB(θB=20.4465°)(固定入射X射线和检测器),样品在θB附近Δω转动,得到I-ω图中峰的FWHM。
2)而仅仅是将2θ角设定为35.893°~45.893°进行θ-2θ扫描(固定样 ...

1)理解跟我给你的解释是一个意思,我的太长显得“啰嗦”了些,你的简短直白了些,意思表达是一样的,也就是我说的“ω应该是指2theta/2的那个角度值,说白了也就是指布拉格衍射角”,
2)你的理解很正确,此两种方法的FWHM意思完全不一样,只能说我以前太小白了。呵呵。

13楼2015-09-03 10:27:20
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雾之祥

至尊木虫 (著名写手)

引用回帖:
12楼: Originally posted by 迷迭咖啡影 at 2015-09-02 20:34:09
1)据我最新理解,ω扫描是固定布拉格衍射角θB(θB=20.4465°)(固定入射X射线和检测器),样品在θB附近Δω转动,得到I-ω图中峰的FWHM。
2)而仅仅是将2θ角设定为35.893°~45.893°进行θ-2θ扫描(固定样 ...

1)理解跟我给你的解释是一个意思,我的太长显得“啰嗦”了些,你的简短直白了些,意思表达是一样的,也就是我说的“ω应该是指2theta/2的那个角度值,说白了也就是指布拉格衍射角”,
2)你的理解很正确,此两种方法的FWHM意思完全不一样,只能说我以前太小白了。呵呵。

14楼2015-09-03 10:28:41
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