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[求助]
关于硅基碳构成的pn结的光照和暗光IV曲线 已有1人参与
纠结了好久,实在不懂到底是哪个环节出了问题,用所有金币求大家帮忙 http://![\"关于硅基碳构成的pn结的光照和暗光IV曲线\"]()
首先,p型硅的下表面做的钛/金,n型碳膜的上表面做的网格型的金,给n碳膜接正极,p硅接电源负极(好像我电源是接反的,但是我感觉即使n碳膜接负极,p硅接正极,也只是交换了IV曲线的电压电流正负方向而已),在这种情况下光照和无光时候测到的I-V曲线如下图1所示,自己感觉很奇怪,因为1、电源都接反了还能测出有整流效应,2、而且感觉和文献中不同的是光照时候I-V曲线交坐标轴围成的区域都在第二象限,所以不知道问题出在了那里,求大家帮帮忙分析一下。
我们实验室是在硅上做碳膜的,我们做的碳膜有非晶的,也有晶粒很小的纳晶碳膜,基本上做的碳膜都是sp2含量比较高。之前用霍尔效应表征过直接溅射在p型硅上的碳膜,得出的结论是碳膜为n型(我觉得都在p型硅上了,还能得出是n型,碳膜应该肯定是n型了吧)。然后就按照这种思路我们认为碳和硅应该构成了pn结,在光照时候能表现出光伏效应,但现在得出的结果和我们想象中有差距,问题可能出在哪里呢?而且对于很多样品我们没有测到整流曲线,而是测到了像图3一样的曲线,并同时在有光的时候曲线变成图2的样子,这种现象是啥原因造成的啊?是我们的样品制作工艺中存在缺陷吗?为啥这样的片子(理论上和图1的片子应该差别大不大啊)测出的暗光曲线和图1完全不一样,而且还木有整流效应啊?
为了分析原因,我们也做了关于钛/金与硅接触的IV如图4,和金与碳膜接触的IV如图5.综合以上信息,大家能帮忙分析一下我们的问题出在哪里了吗?为啥1、电源都接反了还能测出有整流效应,2、为啥光照时候I-V曲线交坐标轴围成的区域都在第二象限3、为啥有的样品就死活测不出整流效应4、我们这个是碳膜和硅构成的Pn结在起作用吗?如果不是的话,是什么在起作用呢?
![关于硅基碳构成的pn结的光照和暗光IV曲线-1]()
QQ图片20140404090739.jpg |
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