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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 材料物理 » 如何以AFM测CVD方法做出来的石墨烯的厚度
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fly笑言

金虫 (正式写手)

[求助] 如何以AFM测CVD方法做出来的石墨烯的厚度 已有2人参与

本人小虫一个，做石墨烯时间比较短，现在要用AFM表征用铜箔生长的石墨烯的厚度，该用什么基底呢？
是直接在铜箔上测，还是转移到硅氧化片或者是石英片上？

[ Last edited by fly笑言 on 2014-3-4 at 20:28 ]
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1楼 2014-03-04 20:24:59
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挥泪天使

荣誉版主 (知名作家)

sunny 阳光大师姐

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【答案】应助回帖

之前我们测得是在硅片上测得
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微笑拥抱每一天,做像向日葵般温暖的女子。
5楼2014-03-05 11:04:43
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挥泪天使

荣誉版主 (知名作家)

sunny 阳光大师姐

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【答案】应助回帖

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fly笑言: 金币+5 2014-06-02 21:07:44
不需要转移，只需要做AFM高度扫描就行了，可以看到厚度
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微笑拥抱每一天,做像向日葵般温暖的女子。
2楼2014-03-05 08:57:10
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fly笑言

金虫 (正式写手)
引用回帖:
2楼: Originally posted by 挥泪天使 at 2014-03-05 08:57:10
不需要转移，只需要做AFM高度扫描就行了，可以看到厚度

哦，这样，直接坐时粗糙度会不会很大，高度分析时不明显呀？那转移到硅氧化片上不可以吗？这样的话表面粗糙度会小一点啊
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3楼2014-03-05 09:35:43
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挥泪天使

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sunny 阳光大师姐

优秀版主优秀版主
引用回帖:
3楼: Originally posted by fly笑言 at 2014-03-05 09:35:43
哦，这样，直接坐时粗糙度会不会很大，高度分析时不明显呀？那转移到硅氧化片上不可以吗？这样的话表面粗糙度会小一点啊...

可以转移，这样材料会比较平，不会损害针尖
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微笑拥抱每一天,做像向日葵般温暖的女子。
4楼2014-03-05 11:04:02
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