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天外飞鱼铁杆木虫 (正式写手)
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[求助]
AFM扫出来的结果和SEM不一致
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不知为何同一个样品AFM扫出来的结果和SEM不一致，SEM中是那种比较大的片，AFM中却基本找不到同样长径比的片，只能得到较小的片，具体见图。另外AFM出的图会有很多大的颗粒。不知道是不是我制样的方式不对，我是把样品分散在乙醇中，超声一段时间后，把洗干净的硅片浸入溶液中几秒。 求小木虫各位大神给小弟指点迷津，不甚感激！  图片2.png  图片1.png |
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无机化学论文润色/翻译怎么收费?
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papaverme
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【答案】应助回帖
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天外飞鱼: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2013-11-26 23:21:50
天外飞鱼: 金币+10, ★★★★★最佳答案 2013-11-26 23:21:50
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在你做的这个尺度上，让AFM和SEM观察同一个区域也不是不可能的。 在SEM观察时，在这个地方拍一系列不同倍数的照片，并在最小的放大倍数下（几十或上百倍），这样就可能做出一个“藏宝图”，标出SEM照片对应的位置。然后在AFM下先用光学显微镜根据“藏宝图”去找这个位置下针尖，就能实现对同一个位置的AFM观察。 在做AFM时，用Tapping模式，试着调一下驱动力，也许加大一些力才能看见SEM看到的长片，因为SEM看到的很可能是较深层的形貌。 同时，建议重做一次SEM，用5kV甚至更低的加速电压，比较一下样品表层和深层的形貌。如果SEM低电压看到小片，高电压看到长片；同时AFM轻力看到是小片，重力看到的是长片那么就印证了上面的猜测。之后要做的就是进一步分散，避免堆积，让小片和长片都单独摆着，其实也必须是单独铺在基板上，AFM测出的厚度才较准确。 |
12楼2013-11-25 18:46:19
gxytju2008
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2楼2013-11-24 14:59:35
天外飞鱼
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3楼2013-11-25 11:00:13
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4楼2013-11-25 12:11:47