24小时热门版块排行榜    

查看: 740  |  回复: 4
当前只显示满足指定条件的回帖,点击这里查看本话题的所有回帖

15243

金虫 (正式写手)

[求助] 分子筛颗粒内部组成如何表征

我觉得XRD,XRF测定的是整体的平均组成比例,xps可以测定表面的组成,那么请问用什么方法可以测定分子筛晶体内部的组成呢,切片包埋做TEM是否可以实现?或者还有其他什么容易实现的表征呢?

坐等啊
回复此楼

» 猜你喜欢

» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)

» 本主题相关价值贴推荐,对您同样有帮助:

已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

liangsg_2011

新虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
jiangyun2: 金币+1, 谢谢回帖交流,欢迎常来~~ 2013-11-07 17:24:36
15243: 金币+3, ★★★很有帮助 2013-11-20 10:34:06
TEM上带EDX(能谱仪)就可以实现,SEM上带能谱仪(EDX)也可以
2楼2013-11-07 09:39:18
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

liangsg_2011

新虫 (小有名气)

引用回帖:
3楼: Originally posted by 15243 at 2013-11-20 10:47:09
请问TEM或SEM做EDX的时候是否必须切片呢...

分子筛晶体怎么切片?一个颗粒才2-3微米大小。如果是催化剂颗粒(2-5mm)还好切片啊
4楼2013-11-20 10:58:47
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
相关版块跳转 我要订阅楼主 15243 的主题更新
信息提示
请填处理意见