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15243

金虫 (正式写手)

[求助] 分子筛颗粒内部组成如何表征

我觉得XRD,XRF测定的是整体的平均组成比例,xps可以测定表面的组成,那么请问用什么方法可以测定分子筛晶体内部的组成呢,切片包埋做TEM是否可以实现?或者还有其他什么容易实现的表征呢?

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liangsg_2011

新虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★
感谢参与,应助指数 +1
jiangyun2: 金币+1, 谢谢回帖交流,欢迎常来~~ 2013-11-07 17:24:36
15243: 金币+3, ★★★很有帮助 2013-11-20 10:34:06
TEM上带EDX(能谱仪)就可以实现,SEM上带能谱仪(EDX)也可以
2楼2013-11-07 09:39:18
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15243

金虫 (正式写手)

引用回帖:
2楼: Originally posted by liangsg_2011 at 2013-11-07 09:39:18
TEM上带EDX(能谱仪)就可以实现,SEM上带能谱仪(EDX)也可以

请问TEM或SEM做EDX的时候是否必须切片呢
3楼2013-11-20 10:47:09
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liangsg_2011

新虫 (小有名气)

引用回帖:
3楼: Originally posted by 15243 at 2013-11-20 10:47:09
请问TEM或SEM做EDX的时候是否必须切片呢...

分子筛晶体怎么切片?一个颗粒才2-3微米大小。如果是催化剂颗粒(2-5mm)还好切片啊
4楼2013-11-20 10:58:47
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15243

金虫 (正式写手)

引用回帖:
4楼: Originally posted by liangsg_2011 at 2013-11-20 10:58:47
分子筛晶体怎么切片?一个颗粒才2-3微米大小。如果是催化剂颗粒(2-5mm)还好切片啊...

有文献报道分子筛切片技术,但是不容易实现。你前面提到的edx可以测到分子筛晶体内部吗,我了解到的edx测定的元素组成是表面的啊
5楼2013-11-20 11:35:13
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