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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » AFM测得的样品，在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)

[求助] AFM测得的样品，在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗

先请教一下，由于我在测AFM时是整体扫的，但是现在需要不同区域的粗糙度，请问在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗？如何操作
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1楼 2013-10-22 09:44:47
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)
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2楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-10-22 10:40:51
可以,但要有原始数据,这个和仪器品牌有关,建议回去联系给你测的实验室操作人员

我这有离线软件和当时扫的数据，布鲁克的AFM可以吗
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4楼2013-10-22 14:22:17
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)
引用回帖:
3楼: Originally posted by david0404 at 2013-10-22 13:50:16
这个当然可以啊，我们是vecco的AFM，看下说明书就会了，可以任意选取区域测量粗糙度

我这个选择的时候是一条线，我想把一个小的区域框出来
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5楼2013-10-22 14:22:59
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)
引用回帖:
10楼: Originally posted by yuan999 at 2013-10-25 10:53:08
这个可以的，SEM，TEM不就是这么干的吗,用软件画框框，然后在旁边附放大图

谢谢 我试试
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11楼2013-10-28 20:01:18
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)
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9楼: Originally posted by 大水杯 at 2013-10-24 22:33:57
可以的，Bruker附带的数据处理软件都可以选不同区域计算表面粗糙度

弱弱的请求下，可以告诉我是哪个图标么 有打开软件自带的help文件，没有看到
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12楼2013-10-28 20:02:35
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暖暖的SY

铁虫 (小有名气)
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13楼: Originally posted by 大水杯 at 2013-10-28 22:27:10
是单独的一个软件，叫什么Nanoanalysis...

恩好的 谢谢
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14楼2013-10-29 18:35:36
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