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AFM测得的样品，在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗
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| 先请教一下，由于我在测AFM时是整体扫的，但是现在需要不同区域的粗糙度，请问在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗？如何操作 |
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5楼2013-10-22 14:22:59
gxytju2008
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2楼2013-10-22 10:40:51
david0404
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3楼2013-10-22 13:50:16
4楼2013-10-22 14:22:17
