应《网络安全法》要求，自2017年10月1日起，未进行实名认证将不得使用互联网跟帖服务。为保障您的帐号能够正常使用，请尽快对帐号进行手机号验证，感谢您的理解与支持！

24小时热门版块排行榜    

小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » AFM测得的样品，在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗
51/1返回列表
查看: 1906  |  回复: 13
只看楼主 @他人 存档 新回复提醒 (忽略) 收藏    在APP中查看
当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖

暖暖的SY

铁虫 (小有名气)

[求助] AFM测得的样品，在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗

先请教一下，由于我在测AFM时是整体扫的，但是现在需要不同区域的粗糙度，请问在处理数据时，可以把某块框出来，便于得到不同区域的平均粗糙度吗？如何操作
回复此楼

» 猜你喜欢
1楼 2013-10-22 09:44:47
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

yuan999

专家顾问 (知名作家)

【答案】应助回帖

★
暖暖的SY: 金币+1 2013-10-28 20:01:10
这个可以的，SEM，TEM不就是这么干的吗,用软件画框框，然后在旁边附放大图
赞一下 回复此楼
我~心~依~旧
10楼2013-10-25 10:53:08
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
查看全部 14 个回答

gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

★
感谢参与，应助指数 +1
暖暖的SY: 金币+1, ★★★很有帮助 2013-10-23 15:43:06
可以,但要有原始数据,这个和仪器品牌有关,建议回去联系给你测的实验室操作人员
赞一下 回复此楼
2楼2013-10-22 10:40:51
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

david0404

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

★
感谢参与，应助指数 +1
暖暖的SY: 金币+1 2013-10-23 15:43:19
这个当然可以啊，我们是vecco的AFM，看下说明书就会了，可以任意选取区域测量粗糙度
赞一下 回复此楼
3楼2013-10-22 13:50:16
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

暖暖的SY

铁虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-10-22 10:40:51
可以,但要有原始数据,这个和仪器品牌有关,建议回去联系给你测的实验室操作人员

我这有离线软件和当时扫的数据，布鲁克的AFM可以吗
赞一下 回复此楼
4楼2013-10-22 14:22:17
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
查看全部 14 个回答
普通表情 龙 兔 虎 猫
信息提示
关闭
请填处理意见
关闭