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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 材料其他 » 请教纳米阵列的SEM和TEM相关制样问题
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cristianwj

铜虫 (小有名气)

[求助] 请教纳米阵列的SEM和TEM相关制样问题

我是做氧化锌纳米阵列的，请问如何能够获得质量较好的SEM截面形貌？制样时对衬底有什么要求？
如果将导电玻璃基底直接掰开看断面，对样品的损伤一直不好避免，图像也不容易调清晰
但是如果采用其它较薄的衬底，可能会因为衬底不同令结果没有说服力？
请教大家对这方面有什么建议，不胜感激！

另外一个问题就是，怎样将制备好的阵列样品做成透射电镜的样品？
之前用尖锐物品把薄膜刻画，然后在乙醇中超声十分钟，在投射下观察到样品的分散效果不是很好，请问应该如何制样？

[ 来自小组 Solar Cells 之家 ]
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1楼 2013-10-17 09:03:25
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gg9075

至尊木虫 (著名写手)
曾经在实验室的报告会上，看到一个部门做的lnGaAs的界面，很平整，据说是有个博后，在国外专门做这个界面处理，技术相当过硬，建议楼主找找相关的文献看看有没有。
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3楼2013-10-18 08:43:10
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幸福少爷

铁杆木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
情况描述的不清楚，不同结构的样品制样过程也是不同的，制样是根据样品来的
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Youjustfocus
2楼2013-10-17 17:19:27
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