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求助金属氧化物半导体薄膜的能带结构测定
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| 本人的科研方向是在金属表面氧化制备金属氧化物半导体薄膜，现在想表征一下这一复合物的能带结构，比如带隙宽度、导带和价带的位置等，想请教一下大家都有些什么表征手段？最好是电化学方面的表征手段，如果有相关的文献麻烦也帖一下。谢谢大家的解答！ |
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【答案】应助回帖
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锇铱合金耗子: 金币+60, ★★★★★最佳答案, 实在抱歉，没留心收件箱，刚看到您的回复，非常感谢您的回复！ 2013-10-17 08:38:05
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| 您好 之前发给您的信息也没见您回 有几篇相关文献见附件 |
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2013-10-16 19:01:22, 5.51 M
2楼2013-10-16 19:03:00
| 嗯 |
3楼2014-08-21 16:15:04
