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rxn824

银虫 (小有名气)

[求助] a-Si:H非晶硅薄膜的红外光谱具体怎么测试?

想测试下PECVD制备的非晶硅薄膜材料的红外吸收光谱,将非晶硅薄膜沉积在单晶硅片上,但是:
1. 测试的时候不知道多大厚度可以测到吸收光谱?
2.测试应该选择透射模式还是反射模式?
3.反射模式的话怎样制样?怎样测试?

非常感谢各位的帮助!!!
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不信好运
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ssfantasy

银虫 (正式写手)

引用回帖:
8楼: Originally posted by rxn824 at 2013-09-24 13:19:29
现在测试完了,没问题,正在用高斯积分拟合...

求教学,求指导呀

[ 发自小木虫客户端 ]
挣点钱真不容易
9楼2013-09-24 13:27:37
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ssfantasy

银虫 (正式写手)

同样在学这个,还有SiO2中的H含量定量分析如何用FTIR作
挣点钱真不容易
2楼2013-09-20 17:56:11
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夜冷冷

木虫 (著名写手)

硅基薄膜太阳能电池

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
我让别人测过,文献报道厚度在~500nm,应该薄一点也没什么关系;
一般都是利用透射模式下测得;
不知道你想得到一些什么信息?
既然选择了远方就只顾风雨兼程~
3楼2013-09-22 08:32:01
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rxn824

银虫 (小有名气)

引用回帖:
3楼: Originally posted by 夜冷冷 at 2013-09-22 08:32:01
我让别人测过,文献报道厚度在~500nm,应该薄一点也没什么关系;
一般都是利用透射模式下测得;
不知道你想得到一些什么信息?

想测下我们沉积的非晶硅膜中硅氢的成键模式,根据积分后的结构因子估算硅膜的性能,谢谢!

透射模式的话还需要用空白硅片做背景吗?
其实我不懂得是硅片本身透光性不好啊,为什么用透射模式呢?
不信好运
4楼2013-09-22 13:15:13
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