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马踏冰河

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fengangelo: 金币+3, ★有帮助, 谢谢参与 2013-08-26 08:36:12

有可能啊 1、本身可能就是非化学计量比
2、EDS这些好像对轻元素量测不准
3、测本来就只测一个局部有可能成分偏析
4、环境中有氧，或者样品吸附有氧

2楼2013-08-23 08:17:12

初见-XP

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fengangelo: 金币+3, ★有帮助, 谢谢提醒 2013-08-26 08:36:40

基地是导电胶还是单晶硅片啊？会不会是基地导致的啊

3楼2013-08-23 08:49:42

fengangelo

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本帖内容被屏蔽

4楼2013-08-24 05:13:20

fengangelo

禁虫 (小有名气)

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5楼2013-08-24 05:16:15

马踏冰河

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引用回帖:

5楼: Originally posted by fengangelo at 2013-08-24 05:16:15
求文献啊，另外碳也测到不少...

找仪器操作员聊一下我没有相关文献

6楼2013-08-24 08:03:14

gxytju2008

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fengangelo: 金币+3, ★★★很有帮助, 你提到的跟表面吸附应该没啥关系令我的结果失去了依据！ 2013-08-26 08:41:17

EDS不定量的。。尤其对轻元素，别说20%了。。50%我都觉得不奇怪，跟表面吸附应该没啥关系，它打到的应该是几微米级别的信息，C的话。。不知道你是用啥制样的，黑导电胶倒是都是炭黑

7楼2013-08-24 09:39:42

x_0423

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fengangelo: 金币+5, ★★★很有帮助, 第二位提到不存在吸附氧的问题！ 2013-08-26 08:42:09

不太清楚楼主用的是怎样的设备和如何制备的试样。这里分享下我们做EDS的经验希望对楼主有帮助。
1.我们常用SEM的EDS，由于SEM环境内是高度真空所以几乎不存在吸附氧的问题。
2.我们在做EDS分析之前，样品需要carbon coating，所以引入碳元素属正常现象。
3.样品表面形貌对电子散射影响很大，因此不同位置的分析结果不同。
4.分析方法不同结果也不同（点分析，面分析等）

8楼2013-08-24 17:50:33