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fengangelo
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2013-08-26 08:36:12
有可能啊 1、本身可能就是非化学计量比
2、EDS这些好像对轻元素量测不准
3、测本来就只测一个局部 有可能成分偏析
4、环境中有氧,或者样品吸附有氧
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2楼
2013-08-23 08:17:12
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2013-08-26 08:36:40
基地是导电胶还是单晶硅片啊?会不会是基地导致的啊
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3楼
2013-08-23 08:49:42
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5楼
:
Originally posted by
fengangelo
at 2013-08-24 05:16:15
求文献啊,另外碳 也测到不少...
找仪器操作员聊一下 我没有相关文献
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6楼
2013-08-24 08:03:14
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很有帮助, 你提到的跟表面吸附应该没啥关系 令我的结果失去了依据!
2013-08-26 08:41:17
EDS不定量的。。尤其对轻元素,别说20%了。。50%我都觉得不奇怪,跟表面吸附应该没啥关系,它打到的应该是几微米级别的信息,C的话。。不知道你是用啥制样的,黑导电胶倒是都是炭黑
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7楼
2013-08-24 09:39:42
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很有帮助, 第二位提到 不存在吸附氧的问题!
2013-08-26 08:42:09
不太清楚楼主用的是怎样的设备和如何制备的试样。这里分享下我们做EDS的经验希望对楼主有帮助。
1.我们常用SEM的EDS,由于SEM环境内是高度真空所以几乎不存在吸附氧的问题。
2.我们在做EDS分析之前,样品需要carbon coating,所以引入碳元素属正常现象。
3.样品表面形貌对电子散射影响很大,因此不同位置的分析结果不同。
4.分析方法不同结果也不同(点分析,面分析等)
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2013-08-24 17:50:33
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有帮助, 500度氧化铜片的到的纳米线,底层确实有Cu。但上层的线应该是CuO.
2013-08-26 08:52:06
有无可能在你的所谓氧化铜纳米线中其实还有单质铜的存在呢?本人非化学出身,对此纯属臆测,若错了请别人莫笑。
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9楼
2013-08-25 00:10:34
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EDS仅供参考,不是很准确,另外,可能你样品中的O确实是很多,富O存在
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10楼
2013-08-25 18:49:40
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