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zhongluking

新虫 (小有名气)

[求助] 如果表征200nm薄膜中S,F元素的垂直分布?金币聊表谢意

在200nm厚度的薄膜中,S,F元素垂直于薄膜方向有梯度分布,请教如何通过TEM能谱观测?如何制样?文献中说需要用FIB制样。这是什么制样方法?
我们的薄膜不能接触水等溶剂。
或者有没有其他的表征手段
谢谢!
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神魔流转

木虫 (著名写手)


【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
液氮冷冻切片,然后EDX研究切片中不同部位的元素,或者做mapping。
5楼2013-07-04 01:33:19
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
kunpeng1782: 专家考核, 谢谢您的指导 2013-07-03 23:46:46
SIMS不知道能不能行,我也没有亲自做过
2楼2013-07-02 21:42:29
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zhongluking

新虫 (小有名气)

引用回帖:
2楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-07-02 21:42:29
SIMS不知道能不能行,我也没有亲自做过

SIMS是什么?
不理解啊
3楼2013-07-03 23:56:29
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

引用回帖:
3楼: Originally posted by zhongluking at 2013-07-03 23:56:29
SIMS是什么?
不理解啊...

二次离子质谱,应该是要做动态的那种,用离子枪轰样品表面,不断摄谱
4楼2013-07-04 01:04:02
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