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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 晶体软件 » XRD半峰宽变化
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sunson0530

木虫 (小有名气)

[求助] XRD半峰宽变化

大家好，我有一个样品测试XRD，考察某一个峰的半峰宽FWHM，由于样品是外检的，突然得到的结果离预期的偏小很多，第二次测试同一样品结果符合预期（样品的FWHM我们有一个标准 的）。大家帮忙判断一下什么原因造成的，跟仪器的测试的电压，电流，还是狭缝之类的有关，大家说说看法。
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1楼 2013-06-17 19:08:06
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回帖置顶 ( 共有1个 )

xhtangxh

木虫 (著名写手)

有木有虫

【答案】应助回帖

★
感谢参与，应助指数 +1
lijunjie84: 回帖置顶 2013-06-18 08:27:04
lijunjie84: 金币+1, 感谢参与！ 2013-06-18 08:27:12
可以考虑一下样品是否均匀，包括粒径和应力情况。狭缝和扫描速度不同都会有一定影响，但如果严格扣除仪器增宽和双线增宽，均匀样品测得的本征宽度应该是一致的。
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4楼2013-06-18 08:25:31
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zbj

至尊木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★
感谢参与，应助指数 +1
lijunjie84: 金币+1, 感谢参与！ 2013-06-18 08:26:55
仪器测试条件必须完全相同， 才能比较两次测试的结果。如果仪器的测试电压，电流，狭缝有不同，肯定影响结果。
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2楼2013-06-17 19:14:42
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sunson0530

木虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by zbj at 2013-06-17 19:14:42
仪器测试条件必须完全相同， 才能比较两次测试的结果。如果仪器的测试电压，电流，狭缝有不同，肯定影响结果。

肯定是同一台仪器，而且以前很稳定的，我想知道什么原因造成的那一次的变化。问测试的老师也说不清

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
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3楼2013-06-17 21:43:30
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