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XRD测量谱线最强峰不同于标准卡片的最强峰 在RIR定量分析时如何计算已有1人参与
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各位大侠，想做一个比较简单的定量分析（不需要非常精确，只是要判断一个含量变化趋势），现有XRD谱图只存在两相，想通过绝热法做定量分析（全谱图和内外标等方法没什么条件并且也不会 ），现在标准卡片里两相的RIR值均已给出，但是标准卡片里最强峰（就是卡片里I（f）=100%的那个，不知道我这么说对不对）和我实际测出的图谱不吻合（但是峰位都是吻合的，定性分析没有问题）。 ps：卡片里I（f）=100%的峰值在30度左右，I（V）=100%在35读左右 而我实测的最强峰在60度左右（不管是峰值还是面积均为最大） 现在问题如下： 1 我在用公式计算时应选取实测最强峰的面积值，还是在按照标准卡片里最强峰所对应的角度，然后找到我实测谱线中该角度所对应峰值的面积值来参与计算？ 2 在选取标准卡片最强峰是是按照I（f）=100%来选 还是按照I（v）=100%来选？ 这几天看了好多说法 有说是按实测最强峰算，有的说是要找到标准卡片最强峰对应的角度，按照角度对应的峰来算，现在迷茫了。。。求高手解答。。 希望真懂的人来答下 否则更加迷茫 |
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