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MANOWAR

金虫 (正式写手)

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9楼: Originally posted by 白露未晞 at 2013-07-08 10:16:55
1000nm远远大于13nm，弱峰被掩盖的几率非常高

图谱上某个位置，按着最初设计，理想情况应该是有峰的，但是从实际测的情况来看，峰不明显，但是与不含此材料的样品相比（其它都相同，除了这一层），在同一个位置，强度还是要高得多的，但是跟那些明显的峰相比较，强度弱的多得多得多得多~~~
这种情况的话，能说明什么问题？这个材料到底有还是没有？请不吝赐教~

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11楼2013-07-10 12:30:16

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snow_mount

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【答案】应助回帖

看了一下，衍射峰的强度主要跟电子密度以及光照射的总体积，以及散射光间的相干性有关；
你的问题是只考虑厚度的情况下，衍射峰的强度与厚度的关系，
如果薄膜不太后，几百nm内，我们可以不考虑X光在穿透薄膜中的衰减问题（X光衰减长度大概在micron量级），这时，衍射峰的强度=在样品上的照射面积*厚度/sin(theta)
所以，超薄膜的峰会被厚膜的峰掩盖，
为了提高强度，可以减小theta，当theta很小时就是掠入射衍射，这时厚度/sin(theta) 接近micron量级或者全反射，衍射信号主要来自表面层

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西岭

12楼2013-07-12 10:28:09

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MANOWAR

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引用回帖:

12楼: Originally posted by snow_mount at 2013-07-12 10:28:09
看了一下，衍射峰的强度主要跟电子密度以及光照射的总体积，以及散射光间的相干性有关；
你的问题是只考虑厚度的情况下，衍射峰的强度与厚度的关系，
如果薄膜不太后，几百nm内，我们可以不考虑X光在穿透 ...

我大概明白你的意思了，但是也有一个问题，就是如果采用小角度掠射，XRD强度整体也变弱，不知道这会不会对峰的分辨产生影响~

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13楼2013-07-12 23:38:26

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