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wcjhit

木虫 (正式写手)


[交流] 如何测定试样表面是否有氧化物产生?XPS?

最近投了一篇文章,为了排除试样表层氧化物对测试结果的影响,我用XPS对试样表面进行逐层剥离分析,XPS结果如下图所示。据此,我判断表层无氧化物产生。而审稿人却说:Now the samples were Ni and it is impossible for Ni to have no oxide on the surface. Surely the XPS did not pick this up, but such a statement is obviously wrong.
请问我该如何回复审稿人,或者能否通过其他的方法来对表层氧化物进行测定与分析。

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wcjhit

木虫 (正式写手)


送红花一朵
引用回帖:
7楼: Originally posted by hwweven at 2013-05-03 22:45:46
单质Ni2p在852.3和869.7附近,而NiO中的Ni2p在853.3和871.7附近,Ni2O3的Ni2p3/2可能在856.8附近,楼主可以对照着找找看。
看图中未刻蚀的表面似乎有NiO存在,但峰很弱小。

非常感谢!
9楼2013-05-04 10:22:36
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wcjhit

木虫 (正式写手)


各位大牛帮帮忙啊 谢谢了!
2楼2013-05-03 14:33:11
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ncsuuvm

至尊木虫 (职业作家)



wcjhit(金币+1): 谢谢参与
你etch前和后为什么Ni峰增加呢?? 如果样品有氧化物,用XPS很容易检测出来。不知道你说的什么意思。
5楼2013-05-03 15:37:44
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wcjhit(金币+1): 谢谢参与
单质Ni2p在852.3和869.7附近,而NiO中的Ni2p在853.3和871.7附近,Ni2O3的Ni2p3/2可能在856.8附近,楼主可以对照着找找看。
看图中未刻蚀的表面似乎有NiO存在,但峰很弱小。

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7楼2013-05-03 22:45:46
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