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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 材料测试 » 请问四探针法测量涂层导电率的问题
汕头大学海洋科学接受调剂
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ymxiong

[交流] 请问四探针法测量涂层导电率的问题

最近做了一个涂层（100microns 左右），想采用四探针法测量涂层的电导率，但现在问题是涂层在基体上很难剥离，不知道有那位虫友做过相关的实验（或者对四探针法很熟），请指点该实验在不分离涂层的情况下如何进行？涂层的厚度与基体材料对电导率的测量有什么样的影响。
先行谢过了。
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1楼 2007-09-14 19:11:55
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icwafer

金虫 (正式写手)
★
ymxiong(金币+1,VIP+0):谢谢参与
测量方块电阻，乘以厚度就可以了，注意单位换算。
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为人民币服务！
2楼2007-09-14 21:34:03
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fuzp

铁杆木虫 (正式写手)
★ ★ ★ ★
ymxiong(金币+4,VIP+0):谢谢详细回复，我的基体是导电的，涂层/基体界面有塑性变型，涂层厚度在100um左右，如何考虑界面电子散射？
基底不导电的话，测量简单，分析的时候关系复杂，因为还和表面及界面对电子的散射状况相关。若设d/l=K，则近似的，r0/r=1-(3/16K)*(2-p-q), d为膜厚，l为电子平均自由程，r0是体材料的电阻率。p,q分别表征表面和界面对电子的散射状况。不过你的薄膜应该算比较厚，所以电阻率和厚度没什么关系。但是如果基底导电，测量的时候就得考虑基底的并联作用了。

[ Last edited by fuzp on 2007-9-15 at 05:44 ]
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3楼2007-09-15 00:14:26
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swingbj

木虫 (小有名气)
★
ymxiong(金币+1,VIP+0):谢谢对四探针法测量的回复。但就是无相关文献！
用银胶粘上四根引线测量就是了，只是计算时注意一下就行了。可以参考YBCO涂层导体的测量方法，同时注意表面电阻的概念，至少在超导涂层材料里两者是不一样的，可以找相关文献看看。
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4楼2007-09-15 08:14:23
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ymxiong

引用回帖:
Originally posted by icwafer at 2007-9-14 09:34 PM:
测量方块电阻，乘以厚度就可以了，注意单位换算。

四探针放成方块形测量，但读了一个这样的文献，说各点下在涂层内有一个测量球（可能超出涂层厚度），方块电阻的测量是否就是表面电阻？我的涂层和基体都是导电的。
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5楼2007-09-15 11:40:21
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luoguoqiang1980

铜虫 (小有名气)
★
ymxiong(金币+1,VIP+0):谢谢回复
测表面电阻（就是方电阻），测量厚度，即可以得到体电阻率（电阻率），这个方法是最简单的。
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6楼2007-09-15 15:21:03
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luoguoqiang1980

铜虫 (小有名气)
用范德瓦四探针法所用的设备并没有测量球 ，你所说的测量球我没有见过（我只见过针状＆刀口状的）。也不要太用力，因为四探针法就是消除电极误差来测量电阻非常低的导体（或半导体）。
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7楼2007-09-17 14:48:34
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luoguoqiang1980

铜虫 (小有名气)
★ ★
ymxiong(金币+2,VIP+0):非常感谢！心里有点底了。哈哈。不过金币剩得太少，希望虫友勿见怪。
就算是基体是导体也无所谓，因为我们是先测量表面电阻率，这样的话，只要你的厚度是准确的，你的体电阻率就肯定是准确的。
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8楼2007-09-17 14:51:27
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caoqigao

金虫 (正式写手)
★
ymxiong(金币+1,VIP+0):非常感谢回复！采用融化的方法是很好的创意，但我的情况不同，基体熔点很高，1000度以上会破坏我的涂层并改变其性能。不过还是非常感谢您的积极参与。
既然是涂层，那么涂层和基体的熔点是不一样的呀，而且涂层的厚度还是比较厚的，一般来讲，基体的熔点比较低吧，那就可以把基体给熔掉。如果怕破坏涂层，可以在真空或气氛保护下熔。
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9楼2007-09-17 14:53:47
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