| 查看: 308 | 回复: 3 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
| 【有奖交流】积极回复本帖子，参与交流，就有机会分得作者 TEM 的 27 个金币 | |||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | |||
[交流]
请教一个晶胞参数的问题
|
|||
|
NiS2，CuS等过渡金属硫化物经常以非化学计量比化合物出现，比如NiS1.98，NiS1.96等，当S的含量发生微小变化的时候晶胞参数是如何变化的？如何来精确的测量变化趋势以及最大的变化范围？ 如果能够提供相关文献的奖励1～10个金币。谢谢 |
回复此楼» 猜你喜欢
291分调剂
已经有9人回复
-
调剂求收留
已经有34人回复
-
291 求调剂
已经有38人回复
-
22408 312求调剂
已经有17人回复
-
一志愿华中农业071010，320求调剂
已经有6人回复
-
290调剂生物0860
已经有41人回复
-
291求调剂
已经有3人回复
-
211本科材料化工求调剂
已经有23人回复
-
山东省基金2026
已经有9人回复
-
药学求调剂
已经有13人回复
dielectric
铁杆木虫 (正式写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 贵宾: 0.05
- 金币: 5426.9
- 帖子: 520
- 在线: 78.1小时
- 虫号: 94519
- 注册: 2005-09-27
- 性别: GG
- 专业: 无机非金属类光电信息与功
★ ★ ★ ★
3040821025(金币+1,VIP+0):谢谢提供。
TEM(金币+3,VIP+0):谢谢回复
3040821025(金币+1,VIP+0):谢谢提供。
TEM(金币+3,VIP+0):谢谢回复
|
你这个问题比较常见，一些较好的XRD都可以做，就看你那个晶胞参数变化能有多大了。 常用的是德国STOE的装有PSD(position sensitive dector)的XRD，同时用标准Si粉作内标。 STOE本身有Winxpow软件，峰的标定以及晶格常数计算都可以非常容易的做。 如果用Si粉作内标，至少晶格常数小数点后第三位的变化可以精确测。我自己的样品晶格常数变化发生在小数点第四位，这时还可以看到变化。 至于文献，可以说相关文章不少，特别是对某个材料进行改性掺杂时，经常需要计算不同掺杂量时的晶格常数变化。 总之技术并不难，关键是有台好XRD |
3楼2007-09-15 02:09:54
