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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 材料物理 » 薄膜电导率的测量
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笨笨小和尚

铜虫 (小有名气)

[求助] 薄膜电导率的测量

各位小弟最近遇见一问题。就是在铜合金表面实现合金化以提高材料的耐磨性能。表面改性层厚度为5-10um。以为铜合金的良好的导电性，所以需要对电导率进行测量。常用的测量方法是四探针，但是问题是基体是铜，表层是铜合金，这样就存在着测量结果无法表征表面改性层的导电性能的问题。考虑另一方法是对整体电阻值进行测量，然后看改性前后电阻值的变化情况。请问这样可以有力的说明导电性的问题吗？
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1楼 2013-03-01 20:15:43
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chaolihai

铜虫 (初入文坛)
引用回帖:
9楼: Originally posted by 笨笨小和尚 at 2013-04-04 18:28:36
没有呢，学校的设备太老了？测不出来呢，铜的导电性太好了。我想用整体的电导率变化反应对导电性能的影响。...

哦，看来也只能这样了
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to err，is human,to forgive, devine
10楼2013-04-07 16:27:19
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醋人

至尊木虫 (职业作家)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
费事，电阻测量精度会有直接影响
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精专业、强意志、壮身体
2楼2013-03-01 20:19:21
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笨笨小和尚

铜虫 (小有名气)
那我可以这样用块体材料的电阻值变化表征表面改性层的导电性能吗？薄膜电阻值的测量实在是不好实现。另外如果薄膜厚度太薄的话像5um这样，薄膜电阻值的测量可以用四探针表征吗？精度怎样？我看文献里是用四探针测量的。
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3楼2013-03-01 20:34:14
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muren2001

铜虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

试样多厚？可以把基体磨掉，试样太厚，就先线切割，然后再磨
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笨笨小和尚
4楼2013-03-07 16:56:48
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