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rian822

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[求助] 多金币悬赏咨询四探针法测量粉体电导率的有关问题

本人做的纳米级碳材料在做锂电负极材料，最近审稿人要求给出这种纳米粉体的bulky state 电导率，我想用四探针测量，但是，有以下几个问题不明白，还请赐教。
1. 我用普通的红外压片机压片，但是，模具直径为13mm。而所用的四探针电阻率/方阻测试仪（M123301）要求样品直径不得小于15mm，请问这样测出的数据误差大么？
2.压片过程中的工艺参数有要求么？有没有相关文献或者手册呢？
2.四探针法测量中测到的是表面电阻率么？跟审稿人要求的所谓的bulky state 电导率是一个概念么？
谢谢各位。

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1楼2011-07-14 09:53:12

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fresh_022

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同样的疑惑哦，帮顶！

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最是那一低头的温柔，恰似那水莲花不胜凉风的娇羞......

2楼2011-07-14 14:02:09

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jocelyn-xixi

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【答案】应助回帖

rian822(金币+100): 2011-07-14 21:42:36

引用回帖:

Originally posted by rian822 at 2011-07-14 09:53:12:
本人做的纳米级碳材料在做锂电负极材料，最近审稿人要求给出这种纳米粉体的bulky state 电导率，我想用四探针测量，但是，有以下几个问题不明白，还请赐教。
1. 我用普通的红外压片机压片，但是，模具直径为13mm ...

压片后可以用伏安法测，

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3楼2011-07-14 16:46:02

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