应《网络安全法》要求，自2017年10月1日起，未进行实名认证将不得使用互联网跟帖服务。为保障您的帐号能够正常使用，请尽快对帐号进行手机号验证，感谢您的理解与支持！

24小时热门版块排行榜    

小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 综合资源 » EDX能分析元素含量随深度的变化吗
31/1返回列表
查看: 708  |  回复: 2
只看楼主 @他人 存档 新回复提醒 (忽略) 收藏    在APP中查看

骑蝙蝠嗷嗷飞

无虫 (初入文坛)

[求助] EDX能分析元素含量随深度的变化吗

EDX能分析元素含量随深度的变化吗（想测一个半导体激光器外延片元素含量随深度变化）
回复此楼

» 猜你喜欢

» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
1楼 2013-01-03 09:25:24
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

sunxiaguang

新虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
骑蝙蝠嗷嗷飞(nihao000代发): 金币+5 2013-05-25 16:55:18
取样做纵截面的线扫描就能得到成份随深度的变化！

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
赞一下 回复此楼
2楼2013-01-03 10:59:44
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

wlq53

铜虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
骑蝙蝠嗷嗷飞(nihao000代发): 金币+5 2013-05-25 16:55:31
可以试一试，但是用EDX做的话，断面很难做，除非是Si基底。建议你做AES或直接XPS 溅射。
赞一下 回复此楼
3楼2013-01-03 11:53:28
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
相关版块跳转 我要订阅楼主 骑蝙蝠嗷嗷飞 的主题更新
31/1返回列表
普通表情 龙 兔 虎 猫
信息提示
关闭
请填处理意见
关闭