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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 金属 » 测试表征 » 在背散射状态下为什么看不到二氧化硅层？
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gusiyong

木虫 (小有名气)

[求助] 在背散射状态下为什么看不到二氧化硅层？

制备了一高温抗氧化涂层材料，材料样品进行氧化性能测试后镶样抛光看涂层的截面形貌，可确定涂层表面形成的是致密的SiO2层，而在截面形貌观察过程中，采用背散射和二次电子相对同一区域进行观察，发现在二次电子模式下可清楚看到SiO2层，但背散射状态下却无法观察到，请问各位其原因是什么？

上传了两张图片，分别是同一区域下的二次电子和背散射图片。

二次电子模式图片.jpg



背散射模式图片.jpg
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1楼 2013-01-02 11:09:01
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comma

专家顾问 (知名作家)

材料人

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
gusiyong: 金币+5 2013-01-02 15:25:23
wercde: 金币+1, 专家考核, 感谢专家交流，幸苦了~ 2013-01-02 16:34:06
二次电子像能看到很正常，因为是形貌像；背散射电子成像依靠背散射电子产额成像，与元素质量或元素原子序数Z大小有关，质量或Z越大衬度越亮；SiO2应该比基体的原子序数小，再者又是化合物态，故背电子信号偏弱。SEM操作增加亮度，以牺牲基体的衬度，显示出SiO2层的衬度。
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每天一小步也有新高度
2楼2013-01-02 13:33:09
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josiahimr

木虫 (著名写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
gusiyong: 金币+5, ★★★很有帮助 2013-01-04 12:02:18
在背散射下，SiO2的衬度与镶嵌料的衬度相似，所以分不清。你可以在样品表面先化学镀一层Ni-P，再镶嵌、打磨、抛光，观察截面形貌。

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
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向着阳光生长……
3楼2013-01-04 08:50:45
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hfutjzy

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

Si/O的原子序数小，背散射电子比较弱，可能与基材融合了，用EDS采集一张全图元素分布图，什么都能说明了
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精益求精，不断进取
4楼2013-01-14 12:43:46
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xjw040

金虫 (正式写手)
引用回帖:
3楼: Originally posted by josiahimr at 2013-01-04 08:50:45
在背散射下，SiO2的衬度与镶嵌料的衬度相似，所以分不清。你可以在样品表面先化学镀一层Ni-P，再镶嵌、打磨、抛光，观察截面形貌。

向您请教个问题，做涂层的截面SEM照片，怎么制样呢？
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5楼2013-03-09 21:09:13
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gusiyong

木虫 (小有名气)
引用回帖:
5楼: Originally posted by xjw040 at 2013-03-09 21:09:13
向您请教个问题，做涂层的截面SEM照片，怎么制样呢？...

得看看涂层和基体的特性，一般进行镶嵌、打磨、抛光（腐蚀）即可，如不导电则需喷金或喷碳处理！
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6楼2013-03-12 11:36:47
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