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椭偏仪的基础问题（课程实验）
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| 我做了使用椭偏仪测量硅片的n,k值随入射角的变化，请问理论上材料的n,k值是否会随入射角变化？变化是否有规律？ 还有为什么入射角不能太小呢？仅仅是机械的原因么？ |
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 椭偏测量 |
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百草家族: 金币+2 2012-11-28 13:43:21
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2楼2012-11-28 09:52:59
3楼2012-11-28 13:42:38
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4楼2012-11-28 21:40:42
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百草家族: 金币+3 2012-11-29 15:42:40
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5楼2012-11-29 11:00:47
mengyonghong
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【答案】应助回帖
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（1）n，k反应的是物质和光相互作用时表现出的宏观光学性质，对于确定的材料，只要材料的外在条件不变，此时的n、k是不变的。要说明的是：n、k是波长的函数，在很多时候还是温度的函数。 对于你的椭偏测试中，仅改变入射角度，测量的结果应该是一样的。 如果存在显著差异，主要原始是：（a）仪器的误差；（b）仪器在各角度下测量的Psi和Delta的精度不同。 （2）仪器的入射角度不能太小，主要原因是：（a）不同角度下的测量精度不同，最佳的测量角度是在其布儒斯特角附近。对于常见的块状材料，如玻璃，其折射率n>1，入射角度应该大于45°；（b）在极限情况下，即入射角度为0时，椭偏测量失去了条件，此时p光和s光合二为一了，因此已无法测量；（c）当然，与仪器的机械设计也是有关系的，通常的样品（不包括金属），一般入射角度都>40°，所以厂家在设计时实际上不需要太小的角度。 |
6楼2013-02-06 06:50:22
