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蜀地越人木虫 (正式写手)
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介孔SiO2的TG有点不正常
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我做的介孔SiO2球，经550℃煅烧除去表面活性剂TTAB，然后放置了一段时间，最近拿去做TG，发现室温开始有一个明显的质量下降（2-5%），到近40℃才结束，DTA则显示有个上峰，表明有放热。余以为，如果是吸附水引起的 应该是接近100℃才开始有质量损失，而且应该是吸热（下峰）才对。而且室温下就开始急速下降，那我放了那么久还没降完吗，感觉像是操作的问题。请问各位大侠有什么高见。 未命名.JPG [ Last edited by 蜀地越人 on 2012-9-26 at 14:13 ] |
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木虫 (正式写手)
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