| 查看: 9566 | 回复: 16 | |||||
| 当前只显示满足指定条件的回帖，点击这里查看本话题的所有回帖 | |||||
[求助]
O1s xps 峰位偏移原因
|
|||||
| 金属氧化物掺杂低价氧化物后，O1s峰有轻微向低结合能方向偏移，怎么解释？ |
回复此楼» 收录本帖的淘帖专辑推荐
 测试分析问题及采购 | 碳纤维材料表征 | XPS谱 |
» 猜你喜欢
08工学-一作ACS AMI（IF 8.2）｜物理团簇背景｜求长三角/山东地区团簇、催化方向调剂
已经有2人回复
-
招收0805（材料）调剂
已经有0人回复
-
无机非金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有77人回复
-
招收0805（材料）调剂
已经有3人回复
-
EBSD极图和反极图怎么看
已经有0人回复
-
材料模拟计算
已经有0人回复
-
PBAT溶解做成乳液
已经有14人回复
-
红外谱图破案，谢谢
已经有0人回复
-
红外谱图破案，谢谢
已经有2人回复
-
材料专硕331分，求调剂
已经有1人回复
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 红外光谱--羟基的伸缩振动峰偏移的原因是什么？
已经有6人回复
- XPS谱中，用284.8校正峰位是不是拟合的C峰中一定有一个是284.8的？我迷茫了……
已经有6人回复
- XRD峰位的偏移
已经有9人回复
- xps分峰是什么意思
已经有3人回复
- XPS 标定用C 峰284.6eV,可是分析峰位比文献高1.0eV,怎么办？
已经有6人回复
- XPS结合能向低角度偏移的原因？
已经有6人回复
- XRD峰随球磨时间向高角度偏移的原因
已经有3人回复
- 【请教】XRD峰偏移的问题？？？
已经有18人回复
- 【求助】关于xps分峰
已经有6人回复
- 【求助】关于XPS峰强度
已经有4人回复
- 【求助】求助关于XPS单质硅的峰偏移问题
已经有10人回复
- 【求助】XRD峰位偏移的原因
已经有26人回复
- 【其他】怎样断定xps峰是否需要分峰
已经有53人回复
dwysd
木虫 (著名写手)
- MEPI: 1
- 应助: 66 (初中生)
- 金币: 3067.2
- 散金: 310
- 红花: 8
- 帖子: 1975
- 在线: 589.2小时
- 虫号: 538838
- 注册: 2008-04-03
- 专业: 半导体材料
【答案】应助回帖
|
实际上这个问题要综合考虑了，你这个问题还真不好回答。首先，根据XPS全谱，确定你的样品中含有哪些元素，并对出现的所有元素进行高分辨扫描，以确定各自的原子百分比；其次，根据O、Y、Zr各自的特征XPS谱线的积分面积及各元素的灵敏度因子，可以计算出样品中O/Y/Zr的原子百分比；同时，根据Y和Zr的XPS高分辨谱线位置，可以判断出Y和Zr的化学态，例如，Y全部是Y2O3态？Zr全部是ZrO2态？是否存在单质Y与Zr？如果存在单质Y和Zr，那么Y2O3中的Y占总Y的原子比例？ZrO2中的Zr占总Zr的原子比例等等。综合这些结果，可以给出Y2O3中的O与ZrO2中的O的比例。 上述所得都是理想状态，如果测试结果中有其他元素，例如S、N等等，那么就要根据其含量考虑其存在状态，例如如果有Zr(SO4)2，那么就更复杂了。同时，要根据你所用的制备方法，考虑除O、Y、Zr外其他出现的元素的来源。如果样品接触过大气，也存在样品表面吸附O2，并形成化学吸附，导致样品被氧化，这样在测试的时候就会得到意外的结果。样品在大气中以及XPS测试系统中会吸附有机污染物，其中含有大量C-O、C=O等化学键，也会导致O峰位变形。所以需要在XPS测试过程中，根据测试结果，对测试程序进行调整，例如可以用XPS系统自带的Ar离子枪对样品表面进行清洗，以去除样品表面吸附的污染物等等。 总之，XPS分析时不能单纯分析某一个元素的谱线，一定要综合考虑！！XPS比较复杂，具体问题具体分析吧！！ |
9楼2012-09-19 21:41:37
2楼2012-09-16 22:12:34
dwysd
木虫 (著名写手)
- MEPI: 1
- 应助: 66 (初中生)
- 金币: 3067.2
- 散金: 310
- 红花: 8
- 帖子: 1975
- 在线: 589.2小时
- 虫号: 538838
- 注册: 2008-04-03
- 专业: 半导体材料
4楼2012-09-19 09:43:34
dwysd
木虫 (著名写手)
- MEPI: 1
- 应助: 66 (初中生)
- 金币: 3067.2
- 散金: 310
- 红花: 8
- 帖子: 1975
- 在线: 589.2小时
- 虫号: 538838
- 注册: 2008-04-03
- 专业: 半导体材料
5楼2012-09-19 09:44:53
40