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XRD仪器本征宽度的测量 已有4人参与
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这是测量晶粒尺寸或晶格畸变必须用的一个参数。 每一台仪器的本征宽度是不一样的，同一台仪器在不同的光路配制时也会不一样。 在精确测量的时候，不能随便找一个值来代替。 方法1：外标法 这个方法不是特别精确。 将标准Si粉（一般经过退火的硅粉就可以）在光路配制、扫描设定等相同条件下采集数据，测出每个peak的FWHM。以(2θ)为横坐标，以FWHM为纵坐标绘制一条曲线。这个就是仪器本征宽度曲线，使用时从曲线上选择相应2θ角度的FWHM。 方法2：内标法 这个方法非常精确，但只适用于粉末样品。 将标准Si粉和样品以适当的比例混合（Si的信号强度和样品中待测相的信号强度大致相当），然后采集数据，绘制曲线。 外标法不如内标法精确的原因： 因为每个样品测量时的垂直位置、密实程度以及样品的透明度（X-ray穿透深度）是不同的，这些都会影响到衍射几何。 |
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 XRD测试 |
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谢谢分享经验。 2楼2012-09-13 22:00:37
gyliu
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