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风雨过后木虫 (著名写手)
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[求助]
审稿意见及XRD疑问
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前两天投了篇论文，给了审稿意见如下： It was Rietveld analysis of X-ray study recommended in order to evaluate crystallite size and internal strain (and dislocation density). 审稿人的意思要求用精修XRD测量晶粒尺寸和位错密度么？ 位错胞的尺寸也能够用XRD测量出啦么？ 还有就是如果晶粒尺寸超过100nm用此方法还能测量么？ [ Last edited by 风雨过后 on 2012-8-9 at 14:45 ] |
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