24小时热门版块排行榜    

CyRhmU.jpeg
查看: 4228  |  回复: 17
当前只显示满足指定条件的回帖,点击这里查看本话题的所有回帖

ggz51

铁杆木虫 (正式写手)

[求助] XRD和AFM测得的晶粒尺寸

请问,通过XRD用谢乐公式计算的晶粒尺寸是crystal size吧?那用AFM测得的尺寸(mean diameter)是什么?是所谓的grain size么?两者有什么联系?是不是多个crystal 合成一个grain?
    那我用谢乐公式计算的尺寸是30nm,而用AFM测出的有100nm左右,这说明什么呢?说明三四个crystal 合成了一个grain?有点少吧?
谢谢大家啊~~
回复此楼

» 收录本帖的淘帖专辑推荐

铁电材料 好贴多多

» 猜你喜欢

» 本主题相关价值贴推荐,对您同样有帮助:

已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖

diwunju

铁杆木虫 (正式写手)

ggz51: 回帖置顶 2012-06-15 18:17:49
两种方法都不靠谱。谢尔公式使用的时候要去掉仪器宽度,你放一块单晶去测,无限大晶体,测出来也是有线宽的。去掉仪器宽度这一步比较麻烦,如果不去算出来当然都是偏小的。AFM测的不是grain size,只是表面起伏,就是只是露出表面的那一部分的大小,你哪里知道表面下面晶粒是多大。楼上有人提到TEM,那是比较靠谱的方法。

» 本帖已获得的红花(最新10朵)

10楼2012-06-15 10:50:05
已阅   回复此楼   关注TA 给TA发消息 送TA红花 TA的回帖
相关版块跳转 我要订阅楼主 ggz51 的主题更新
信息提示
请填处理意见