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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 材料综合 » 材料其他 » 关于InGaN中相分离的检测技术
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Jason-wong

至尊木虫 (职业作家)

[交流] 关于InGaN中相分离的检测技术 已有1人参与

相分离是否发生，以何种形式存在，在实验上有多种方法可以检测。主要包括X射线衍射（XRD）、透射电子显微镜（TEM）、选区电子衍射（SAD）、吸收光谱（Optical absorption spectra）、阴极荧光谱（CL spectra）、拉曼光谱（Raman spectra）、光致发光（PL spectra）等技术。但是我们所做的XPS实验可以发现存在InN和GaN相，能否仅根据XPS结果，说明有相分离的发生？

[ Last edited by Jason-wong on 2012-5-24 at 17:06 ]
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1楼 2012-05-24 17:04:27
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Jason-wong

至尊木虫 (职业作家)
送鲜花一朵
引用回帖:
2楼: Originally posted by MANOWAR at 2012-05-24 21:56:56
这种三元合金本来就应该是InN和GaN共存的，只是比例不一样，所以我感觉XPS不能说明相分离的问题。

嗯，相关文献报道相图中调幅曲线以内的合金多以两相形式存在。看了你的意见，我也觉得XPS结果不能说明相分离。多谢~~
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3楼2012-05-25 11:23:50
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MANOWAR

金虫 (正式写手)
★ ★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
wbcui: 金币+1, 多谢帮助 2012-05-25 12:04:15
这种三元合金本来就应该是InN和GaN共存的，只是比例不一样，所以我感觉XPS不能说明相分离的问题。
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Jason-wong
2楼2012-05-24 21:56:56
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