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请问有没有哪位大侠对压电陶瓷材料做过XRD、SEM等等测试和分析呢？
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1、用X射线衍射（XRD）可以确定薄膜晶体结构与取向(包括非晶，多晶，高度取向或外延生长)；
2、用扫描电镜（SEM）分析薄膜表面形貌，并进行断面分析等
具体步骤有没有哪位大侠知道，若没有做过相关的测试；可以给出相关的文献资料吗！谢谢！ |
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