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wang_456456

铜虫 (小有名气)

[求助] 霍尔效应测试仪器测试基体材料的研制

我遇到这样一个难题,想用霍尔效应测试仪器测量ZnO与ZnS薄膜的电学性能,这两种薄膜在实验过程中是沉积在导电玻璃基体FTO上的,但在测试的时候却遇到了很大的问题,对半导体基体材料的要求实在是太高了:不但基体材料的尺寸要小于1×1cm,且基体不能是导体,还要在基体上引出四根导线。我就是想问一下就用FTO导电玻璃作为基体材料来测ZnO和ZnS薄膜霍尔效应系数及载流子浓度等可行吗?如果可行的话具体的制样过程应该是什么样的?哪位高手老师能详细的给讲一下,不胜感激!
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jq501

新虫 (初入文坛)

lifucheng

专家顾问 (知名作家)

wang_456456

铜虫 (小有名气)

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