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wang_456456

铜虫 (小有名气)

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专业: 电化学

[求助] 霍尔效应测试仪器测试基体材料的研制

我遇到这样一个难题，想用霍尔效应测试仪器测量ZnO与ZnS薄膜的电学性能，这两种薄膜在实验过程中是沉积在导电玻璃基体FTO上的，但在测试的时候却遇到了很大的问题，对半导体基体材料的要求实在是太高了：不但基体材料的尺寸要小于1×1cm，且基体不能是导体，还要在基体上引出四根导线。我就是想问一下就用FTO导电玻璃作为基体材料来测ZnO和ZnS薄膜霍尔效应系数及载流子浓度等可行吗？如果可行的话具体的制样过程应该是什么样的？哪位高手老师能详细的给讲一下，不胜感激！

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1楼 2012-04-16 11:52:38

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wang_456456

铜虫 (小有名气)

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引用回帖:

2楼: Originally posted by lifucheng at 2012-04-16 20:59:13:
我只提点我听说过的例子来交流下哈当时我有个兄弟是直接将要测试的材料沉积到片子上测的我也遇到过测氧化锌的她是压片做的但是连出来的四个导线没有弄好结果结果很不准 ITO貌似不行吧因为你四根导线如何接上 ...

我也是遇到这个问题了，导线不知道如何连接上去！很愁人啊！