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wang_456456

铜虫 (小有名气)

[求助] 霍尔效应测试仪器测试基体材料的研制

我遇到这样一个难题,想用霍尔效应测试仪器测量ZnO与ZnS薄膜的电学性能,这两种薄膜在实验过程中是沉积在导电玻璃基体FTO上的,但在测试的时候却遇到了很大的问题,对半导体基体材料的要求实在是太高了:不但基体材料的尺寸要小于1×1cm,且基体不能是导体,还要在基体上引出四根导线。我就是想问一下就用FTO导电玻璃作为基体材料来测ZnO和ZnS薄膜霍尔效应系数及载流子浓度等可行吗?如果可行的话具体的制样过程应该是什么样的?哪位高手老师能详细的给讲一下,不胜感激!
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lifucheng

专家顾问 (知名作家)

我只提点我听说过的例子来交流下哈 当时我有个兄弟是直接将要测试的材料沉积到片子上测的 我也遇到过测氧化锌的 她是压片做的 但是连出来的四个导线没有弄好 结果结果很不准 ITO貌似不行吧 因为你四根导线如何接上去啊
2楼2012-04-16 20:59:13
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wang_456456

铜虫 (小有名气)

引用回帖:
2楼: Originally posted by lifucheng at 2012-04-16 20:59:13:
我只提点我听说过的例子来交流下哈 当时我有个兄弟是直接将要测试的材料沉积到片子上测的 我也遇到过测氧化锌的 她是压片做的 但是连出来的四个导线没有弄好 结果结果很不准 ITO貌似不行吧 因为你四根导线如何接上 ...

我也是遇到这个问题了,导线不知道如何连接上去!很愁人啊!
3楼2012-04-17 09:11:04
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jq501

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
3楼: Originally posted by wang_456456 at 2012-04-17 09:11:04
我也是遇到这个问题了,导线不知道如何连接上去!很愁人啊!...

所以最后您怎么解决的啊  我现在也在做这个可是不知道怎么测试,您测出来了吗?谢谢!
4楼2017-06-28 20:15:51
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