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[求助]
求助：磁性薄膜材料测得的VSM数据改如何处理？？
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衬底是单晶硅，薄膜厚度大概40nm，磁化强度比较弱。测得的结果与正常磁滞回线相比是反的，可能是衬底抗磁性太强。另外振动杆也有一定抗磁性。测量结果减去空杆抗磁性后还是非常不理想。 在此向各位大侠求助，我想知道大家发表在paper上的很完美的曲线（注：薄膜材料的）到底是怎么处理出来的？？？对于薄膜材料一般采取什么样的测量方法才能得到理想的数据？ 真心求助薄膜VSM数据处理方法，大侠们帮帮忙！！！ [ 来自科研家族 磁性材料 ] [ Last edited by ever_see on 2012-4-2 at 23:00 ] |
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【答案】应助回帖
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ever_see: 金币+10, ★★★很有帮助, 主要还是VSM的灵敏度不强，而且使用的时候很多细节会影响结果。你的回答很专业，以后有磁性相关问题要向你请教了，呵呵！谢谢你的回答！ 2012-05-08 09:00:21
ever_see: 金币+10, ★★★很有帮助, 主要还是VSM的灵敏度不强，而且使用的时候很多细节会影响结果。你的回答很专业，以后有磁性相关问题要向你请教了，呵呵！谢谢你的回答！ 2012-05-08 09:00:21
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不知道问题解决没有， 给楼主一些小参考： 1） 将VSM 设备的锁相放大器 M 补进 （M cal）补到最大，以此放大信号；但是后续数据处理的时候 Y轴（M 轴）需要采用均一化的单位 （-1～+1）； 2）硅基板的衬底也需要去除，建议楼主单独测试一次无膜的硅基板； 3）不知道楼主研究什么材料，但是如果面内不易磁化，试试面外如何； 4）VSM 相比于SQUID 而言灵敏度不强，如果条件允许可以换一种测试方法； 个人拙见，希望对楼主有些许帮助 |
3楼2012-05-05 09:51:06
