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Jason

木虫 (著名写手)

[求助] analytical electron microscopy是什么检测方法

analytical electron microscopy是什么检测方法
特点、用途
非常感谢
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Jason
1楼2012-02-20 20:33:45
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haimianc

木虫 (著名写手)

水母粉丝和吹泡泡狂

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
分析电子显微术(AEM)Sample Text
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积极向上的心态要保持好了
2楼2012-02-20 20:42:37
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haimianc

木虫 (著名写手)

水母粉丝和吹泡泡狂

【答案】应助回帖

abooo(金币+1): 辛苦！ 2012-02-20 21:23:17
好吧我是从CNKI翻译助手上面查到的 LZ自己去看例句吧！
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积极向上的心态要保持好了
3楼2012-02-20 20:45:54
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zouji1983

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
abooo(金币+2): 常来无机版！ 2012-02-20 21:22:37
Jason(金币+5): ★★★★★最佳答案 2012-02-21 10:53:50
主要是指TEM的能谱附件和能损谱附件以及扫描透射附件。
特点是通过一系列矫正 使得透射电镜具有定量分析的本领
研究晶界相图 晶界偏析等经常会用。
但现在做这种分析电镜研究的人已经很少了，实验很辛苦 也发不了什么好文章。
上硅所顾辉研究员 杰青 百人 一直坚守在这个领域二十多年了。
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Jason
4楼2012-02-20 20:47:45
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zouji1983

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

Missile521(金币+1): 鼓励回帖交流~ 2012-02-22 09:17:35
一个晶粒就要打上几十个点 上百个点的能谱或者能损谱 通过专用软件去背地 去基地影响 做基线等等 得到成分随位置变化的规律。
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5楼2012-02-20 20:50:02
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Jason

木虫 (著名写手)
送鲜花一朵
引用回帖:
楼: Originally posted by zouji1983 at 2012-02-20 20:47:45:
主要是指TEM的能谱附件和能损谱附件以及扫描透射附件。
特点是通过一系列矫正 使得透射电镜具有定量分析的本领
研究晶界相图 晶界偏析等经常会用。
但现在做这种分析电镜研究的人已经很少了，实验很辛苦 也发 ...

收到，万分感谢
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Jason
6楼2012-02-21 10:53:38
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