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Jason

木虫 (著名写手)

[求助] analytical electron microscopy是什么检测方法

analytical electron microscopy是什么检测方法
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Jason
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Jason

木虫 (著名写手)

送鲜花一朵
引用回帖:
: Originally posted by zouji1983 at 2012-02-20 20:47:45:
主要是指TEM的能谱附件和能损谱附件以及扫描透射附件。
特点是通过一系列矫正 使得透射电镜具有定量分析的本领
研究晶界相图 晶界偏析等经常会用。
但现在做这种分析电镜研究的人已经很少了,实验很辛苦 也发 ...

收到,万分感谢
Jason
6楼2012-02-21 10:53:38
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