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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 晶体 » 测试表征 » 请教关于XRD测试晶体取向的问题
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engine9817

铜虫 (小有名气)

[交流] 请教关于XRD测试晶体取向的问题

一个单晶硅棒，我想从上面切一块下来测试它的晶体取向。现在有两种方式，一种是沿着柱高的方向切一块下来，磨平测试；另一种我对这个硅一砸，单晶硅棒破开，我发现有好几个面都是很光亮的，请问这几个面都是同一个取向出来的吗？因为从XRD上测出来的结果都是差不多。而且除了一个取向的峰，还有其他方向的峰出现。我用的是2Theta的方式测的。
     不知道是不是测试方法也有问题。关于对晶体取向测试及制样的问题，有没有人可以指导一下呢？先谢谢了！
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1楼 2012-01-10 14:43:12
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lsyang

禁言 (正式写手)
★
engine9817(金币+1):谢谢参与
本帖内容被屏蔽
3楼2012-01-11 11:01:46
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ggzxlove

银虫 (小有名气)
★
engine9817(金币+1):谢谢参与
不太清楚，纯学习
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2楼2012-01-10 14:58:40
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yuemingzheng

铁杆木虫 (小有名气)
★
engine9817(金币+1):谢谢参与
你用XRD的测试峰就可以判断取向了，对于特定的晶体取向，会出现一组特定的峰，而不是全谱。
测试时注意样品表面需要平整，最好不要高于载物台。
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4楼2012-01-11 11:08:06
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598878157

版主 (文学泰斗)
★
engine9817(金币+1): 谢谢参与
X射线有面扫描，我们的仪器叫D8，不知道还有没有其它类似的仪器。普通XRD有个fai扫描。
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5楼2013-11-13 13:47:36
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