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engine9817

铜虫 (小有名气)


[交流] 请教关于XRD测试晶体取向的问题

一个单晶硅棒,我想从上面切一块下来测试它的晶体取向。现在有两种方式,一种是沿着柱高的方向切一块下来,磨平测试;另一种我对这个硅一砸,单晶硅棒破开,我发现有好几个面都是很光亮的,请问这几个面都是同一个取向出来的吗?因为从XRD上测出来的结果都是差不多。而且除了一个取向的峰,还有其他方向的峰出现。我用的是2Theta的方式测的。
     不知道是不是测试方法也有问题。关于对晶体取向测试及制样的问题,有没有人可以指导一下呢?先谢谢了!
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ggzxlove

银虫 (小有名气)



engine9817(金币+1):谢谢参与
不太清楚,纯学习
2楼2012-01-10 14:58:40
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lsyang

禁言 (正式写手)


engine9817(金币+1):谢谢参与
本帖内容被屏蔽

3楼2012-01-11 11:01:46
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yuemingzheng

铁杆木虫 (小有名气)



engine9817(金币+1):谢谢参与
你用XRD的测试峰就可以判断取向了,对于特定的晶体取向,会出现一组特定的峰,而不是全谱。
测试时注意样品表面需要平整,最好不要高于载物台。
4楼2012-01-11 11:08:06
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598878157

版主 (文学泰斗)



engine9817(金币+1): 谢谢参与
X射线有面扫描,我们的仪器叫D8,不知道还有没有其它类似的仪器。普通XRD有个fai扫描。
5楼2013-11-13 13:47:36
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