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天堂鹤

木虫 (正式写手)

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[求助] 禁带宽度与电子效应的联系

前一阵投了篇文章，回来结果大修，给我提了很多修改建议，其中有一个意见很让我费解，原文如下：
UV-vis/DRS studies are important and very well informative. However, it is surprising that the authors have not estimated Eg (eV) values for the metal oxide phases of CeO2 and CuOx as a function of Cu loading. This information is important since implies electronic effects between the two phases which could be related to the effect of Cu loading on catalyst’s activity.
这个问题是基于我针对很多不同担载量的CuO/CeO2样品作出的一系列随担载量变化的紫外可见漫反射谱图提出来的。我猜测审稿人的意思可能是说，担载量变化之后禁带宽度Eg会变，这个我真的不太懂，希望牛人们能不吝赐教！谢谢！等着这篇文章毕业呢，呵呵！

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1楼 2011-12-26 14:27:05

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xhtangxh

木虫 (著名写手)

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【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
天堂鹤(金币+30): ★★★★★最佳答案挺有收获的，谢谢。但是我还是不知道怎样通过吸收边（什么叫吸收边）作图来求Eg‘，麻烦您能不能给个图进行一下说明，或者我直接上图您给分析一下也可以。我真是，书到用时方恨少啊！ 2011-12-27 22:12:20

你可以这样理解：CeO2负载CuO后可能产生掺杂效应(包括结构效应和电子效应)，引起Ce、Cu的电子组态改变或结构改变。由于存在Ce3+、Ce4+、Cu+、Cu2+等可变价态，假如CuO负载量较高，能形成CuO相，掺杂量(Cu进入CeO2体相及Ce进入CuO体相)与CuO的负载量应该有一定关系，则CeO2和CuO的禁带宽度(Eg')都会受影响，且是相互的，不可能是纯CeO2和CuO的禁带宽度Eg。另一方面，禁带宽度与物相结构及粒度均有一定关系，如果物相和粒度相同，则可以直接从电子效应去解释。因在UV-vis/DRS中既可能有电子跃迁也可能有荷移跃迁，多组分样品的谱图往往较为复杂，从UV-vis/DRS只能间接、部分推测出电子组态信息，不够确切，应该结合其它表征方法如XPS、XRD看看结构、价态是否改变。不过如果UV-vis/DRS中有明确归属CeO2或CuO的清晰吸收边，能作图求得禁带宽度Eg'，应该用Eg'对CuO负载量作图看看变化趋势，看看催化活性随CuO负载量变化趋势与其是否存在某种关联性，至于产生禁带宽度Eg'与Eg差异的具体原因，如上所述，则不是单独用UV-vis/DRS能完全解释清楚的。

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2楼2011-12-26 16:57:50

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