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Spoondrift

金虫 (初入文坛)

[交流] 半导体材料的带隙可以通过哪些测试手段获得?谢啦!

金属氧化物半导体材料的带隙可以通过哪些测试手段获得?谢啦
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shinexq

木虫 (正式写手)


imrking(金币+1):3q
紫外
2楼2006-12-14 21:11:08
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protein1

铁杆木虫 (著名写手)

★ ★
imrking(金币+2):3q
紫外-可见漫反射(UV-Vis DRS)以及扫描隧道谱(可以测定导带和价带的电势)
3楼2006-12-14 21:15:34
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Spoondrift

金虫 (初入文坛)

引用回帖:
Originally posted by shinexq at 2006-12-14 09:11 PM:
紫外

紫外-可见漫反射,对样品有什么要求?粉体可以吗?
4楼2006-12-14 22:08:05
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xutongkk

至尊木虫 (正式写手)

XPS,x射线光电子能谱
5楼2006-12-15 13:35:39
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shijinwen

金虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by xutongkk at 2006-12-15 13:35:
XPS,x射线光电子能谱

可以吗?怎么没见文献报道?
能介绍一下具体方法吗?

我印象中,XPS是测元素价态的
MCM Mobil Composite of Matter; SBA University of California Santa Barbara 光催化QQ群33982937
6楼2006-12-15 15:44:20
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shijinwen

金虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by protein1 at 2006-12-14 21:15:
紫外-可见漫反射(UV-Vis DRS)以及扫描隧道谱(可以测定导带和价带的电势)

能够推荐一篇有关用扫面隧道谱测带隙的文章吗?谢谢
MCM Mobil Composite of Matter; SBA University of California Santa Barbara 光催化QQ群33982937
7楼2006-12-15 15:46:17
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Spoondrift

金虫 (初入文坛)

引用回帖:
Originally posted by protein1 at 2006-12-14 09:15 PM:
紫外-可见漫反射(UV-Vis DRS)以及扫描隧道谱(可以测定导带和价带的电势)

紫外-可见漫反射,是不是既可以测反射谱又可以测吸收谱啊?
8楼2006-12-15 18:33:02
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hot_cool

金虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by xutongkk at 2006-12-15 01:35 PM:
XPS,x射线光电子能谱

Yes, XPS can be used for such purpose. But as far as I know,  it can only show the valence band position. For those who need to determine the band bending, schottky barrier height, or heterojunction band discontinuity..., this might be also a good technique. I will try to find some literature on this and keep you guys updated.

UV-Vis is the most popular technique for the determination of band gap energy of semiconductor materials. But again, whether we should take the absorption edge or the inflection point, whether we need Kubelka-Munk or not??? These are all question mark to me. So I would be more than happy to know what you guys think.
9楼2006-12-15 23:46:03
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tnt167

金虫 (正式写手)

紫外中的最大吸收峰值就是能隙带宽
10楼2006-12-17 17:02:07
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