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Spoondrift

金虫 (初入文坛)

[交流] 半导体材料的带隙可以通过哪些测试手段获得?谢啦!

金属氧化物半导体材料的带隙可以通过哪些测试手段获得?谢啦
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shijinwen

金虫 (小有名气)

引用回帖:
Originally posted by protein1 at 2006-12-14 21:15:
紫外-可见漫反射(UV-Vis DRS)以及扫描隧道谱(可以测定导带和价带的电势)

能够推荐一篇有关用扫面隧道谱测带隙的文章吗?谢谢
MCM Mobil Composite of Matter; SBA University of California Santa Barbara 光催化QQ群33982937
7楼2006-12-15 15:46:17
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查看全部 10 个回答

protein1

铁杆木虫 (著名写手)

★ ★
imrking(金币+2):3q
紫外-可见漫反射(UV-Vis DRS)以及扫描隧道谱(可以测定导带和价带的电势)
3楼2006-12-14 21:15:34
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Spoondrift

金虫 (初入文坛)

引用回帖:
Originally posted by shinexq at 2006-12-14 09:11 PM:
紫外

紫外-可见漫反射,对样品有什么要求?粉体可以吗?
4楼2006-12-14 22:08:05
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xutongkk

至尊木虫 (正式写手)

XPS,x射线光电子能谱
5楼2006-12-15 13:35:39
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