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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 金属 » 交流互助 » 金属TEM电镜，如何消除或降低干涉条纹？-优秀答案有奖励。
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ysuren

铁杆木虫 (正式写手)

[交流] 金属TEM电镜，如何消除或降低干涉条纹？-优秀答案有奖励。

现在做金属的透射，晶粒内部有写位错结构和析出的小粒子。但是干涉条纹很重，导致找出来的电镜照片效果很差。尤其是1um以下的粒子，内部基本看不出具体的情况来。试着转了一下带轴(本人不是很专业，就是转到了一些菊池线密集的交点),得到的明场像中，粒子基本就全黑了。周围很白。仍然看不清楚。不知道有没有更好地办法，或者我的带轴转得不对，应该转到特定的方向上。
PS：我做的是六方结构的Zr金属。

[ Last edited by ysuren on 2011-10-13 at 10:43 ]
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1楼 2011-10-12 09:17:32
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Aiden95

金虫 (正式写手)
ysuren(金币+1): 13 2011-10-18 08:55:54
等倾干涉条纹主要是由于式样弯曲变形引起各部晶面与入射电子束角度不同，符合Bragg条件不同，导致衍射情况不同而产生干涉条纹，由于双喷时样品不同位置的腐蚀速率不同使样品厚薄不均可能也会导致这种现象。这只是个人观点，仅供参考。
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6楼2011-10-18 08:14:58
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sorceress

木虫 (著名写手)
★
ysuren(金币+1):谢谢参与
ysuren(金币+1): 5 2011-10-12 15:05:00
ysuren(金币+2): 3q 2011-10-12 15:05:58
ysuren(金币+4): 谢谢 2011-10-18 15:13:49
等倾、等厚条纹任何金属的TEM样品都会有啊。
双喷或者离子减薄后样品是楔形，不是平的。
多准备几个样品，就能找到质量比较好的区域了。
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2楼2011-10-12 13:32:41
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Aiden95

金虫 (正式写手)
★
ysuren(金币+1):谢谢参与
ysuren(金币+8): 谢谢，很有同感。但是，不知道，除了等厚干涉，样品本身的什么因素会造成干涉条纹呢？？ 2011-10-17 14:41:25
有些样品的干涉条纹是很严重的，有时候是样品制备的问题，有时候是样品本身的问题。如果只是拍地被的照片，没有必要转到菊池线密集的交点，只需要通过踩X或Y轴把消光条纹移处观察区域即可，需要耐心的调试。如果要拍高分辨图片，那就要转倒菊池线密集的交点，一旦转到菊池线密集的交点，观察区域的样品就会变黑。所以拍形貌像的时候不建议转到菊池线密集的交点。
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5楼2011-10-17 12:36:55
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cuijunjun

禁虫 (著名写手)
★
ysuren(金币+1):谢谢参与
ysuren(金币+6): 3q 2011-10-18 08:57:50
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8楼2011-10-18 08:55:06
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