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ysuren

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[交流] 金属TEM电镜，如何消除或降低干涉条纹？-优秀答案有奖励。

现在做金属的透射，晶粒内部有写位错结构和析出的小粒子。但是干涉条纹很重，导致找出来的电镜照片效果很差。尤其是1um以下的粒子，内部基本看不出具体的情况来。试着转了一下带轴(本人不是很专业，就是转到了一些菊池线密集的交点),得到的明场像中，粒子基本就全黑了。周围很白。仍然看不清楚。不知道有没有更好地办法，或者我的带轴转得不对，应该转到特定的方向上。
PS：我做的是六方结构的Zr金属。

[ Last edited by ysuren on 2011-10-13 at 10:43 ]

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1楼 2011-10-12 09:17:32

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sorceress

木虫 (著名写手)

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★
ysuren(金币+1):谢谢参与
ysuren(金币+1): 5 2011-10-12 15:05:00
ysuren(金币+2): 3q 2011-10-12 15:05:58
ysuren(金币+4): 谢谢 2011-10-18 15:13:49

等倾、等厚条纹任何金属的TEM样品都会有啊。
双喷或者离子减薄后样品是楔形，不是平的。
多准备几个样品，就能找到质量比较好的区域了。

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2楼2011-10-12 13:32:41

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国产科比

木虫 (著名写手)

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ysuren(金币+1):谢谢参与

学习了

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4楼2011-10-12 17:12:53

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Aiden95

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ysuren(金币+1):谢谢参与
ysuren(金币+8): 谢谢，很有同感。但是，不知道，除了等厚干涉，样品本身的什么因素会造成干涉条纹呢？？ 2011-10-17 14:41:25

有些样品的干涉条纹是很严重的，有时候是样品制备的问题，有时候是样品本身的问题。如果只是拍地被的照片，没有必要转到菊池线密集的交点，只需要通过踩X或Y轴把消光条纹移处观察区域即可，需要耐心的调试。如果要拍高分辨图片，那就要转倒菊池线密集的交点，一旦转到菊池线密集的交点，观察区域的样品就会变黑。所以拍形貌像的时候不建议转到菊池线密集的交点。

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5楼2011-10-17 12:36:55

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