[交流] 【交流】透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）应用的区别？已有9人参与

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1楼2010-05-24 09:07:04

haizi2000

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TEM是做材料微观组织分析，比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等，SEM一般是做面扫描，也可以配能谱仪进行能谱分析，比如说断面形貌，组织观察，元素百分比等等。

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2楼2010-05-24 09:25:35

jhkla

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在百度百科上收一下ten sem 一搜就有

3楼2010-05-24 09:36:44

chxmright

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其实本质上还是原理不一样，造成应用上的差别
另外补充一下
做TEM的样比SEM的样要复杂很多~

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一个人静静地看看天~。~

4楼2010-05-24 10:42:54

santuo

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TEM是做材料微观组织、晶体结构分析；
SEM主要用于表面形貌观察，亦可通过能谱检测局部元素组成与含量

科研，再也不见～

5楼2010-05-24 13:55:28

Image6975

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Fighting

6楼2010-05-24 14:55:52

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TEM是做材料微观组织分析，比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等，SEM一般是做面扫描，也可以配能谱仪进行能谱分析，比如说断面形貌，组织观察，元素百分比等等。
补充：透射电镜做晶体结构分析较好，扫描电镜做表面形貌和成分分析较好。

快乐生活，潜心科研

7楼2010-05-24 16:57:44

lchealsea

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透射电镜是利用透射电子来成像的，为此样品制作比较麻烦，需要做的很薄。可以TEM检测来判断材料的内部空间结构。比如得到衍射花样，再通过标定，可以得到其为面心，体心，是否有孪晶等。
扫描电镜主要是利用二次电子成像，以获取材料的表面形貌。通常扫描的附件会带有能谱仪，通过特征射线获取材料的成分分布情况，另外扫描电镜可以观察端口形貌。

8楼2010-06-08 15:54:39