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求翻译一段有关XRF的英文
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求翻译一段话 The method described is x-ray fluorescence applied to PM10, fine (<2.5 μm) and coarse (2.5-10 μm) aerosols particles captured on membrane filters for research purposes in source apportionment. The samplers which collect these particles are designed to separate particles on their inertial flow characteristics producing size ranges which simplify x-ray analysis. The instrument is a commercially available Kevex EDX-771 energy dispersive x-ray spectrometer which utilizes secondary excitation from selectable targets or fluorescers and is calibrated with thin metal foils and salts for 44 chemical elements. Spectra are acquired by menu-driven procedures and stored for off-line processing. Spectral deconvolution is accomplished by a least squares algorithm which fits stored pure element library spectra and background to the sample spectrum under analysis. X-ray attenuation corrections are tailored to the fine particle layer and the discrete coarse particle fraction. Spectral interferences are corrected by a subtractive coefficient determined during calibration. The detection limits are determined by propagation of errors in which the magnitude of error from all measured quantities is calculated or estimated as appropriate. Data are reported in ng/m3 for all samples. Comprehensive quality control measures are taken to provide data on a broad range of parameters, excitation conditions and elements. |
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4楼2011-09-15 22:14:28
fanliang1389
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【答案】应助回帖
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sltmac(金币+2): 辛苦 2011-09-15 21:36:24
matvey(金币+80, 翻译EPI+1): 2011-09-16 13:41:23
sltmac(金币+2): 辛苦 2011-09-15 21:36:24
matvey(金币+80, 翻译EPI+1): 2011-09-16 13:41:23
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本方法将次级辐射应用于PM10，经过膜分离源分配的气溶胶粒子为研究目标，即通过<2.5 μm膜的粒子为纯粒子，2.5-10 μm之间的为粗粒子。 依据所收集粒子的惯性流动特性产生的粒径范围将其分离，以便于X射线分析。 该仪器为一种商业用的Kevex EDX-771能量扩散X光分光仪，它利用可选择对象或荧光剂的两次激发并能够用薄金属片或盐为44中化学元素校准。光谱由菜单-驱动过程获得并通过离线进程保存。采用最小二乘算法可完成光谱的去回旋。该方法适用于已存储的纯元素实验光谱以及正在分析中的样品光谱背景。X射线弱化纠正使其与纯粒子层相和离散的粗粒子碎片适应。光谱干扰在校正过程中由负系数测定进行更正。检测限由误差传播测定，误差传播即所有的所检测计算或估计的结果中的误差。所有样品的数据报告均为ng/m3。全面质量控制检测用来提供广泛的数据参数，激发条件以及激发因素。 |
2楼2011-09-15 21:20:27
【答案】应助回帖
★
爱与雨下(金币+1): ~ 2011-09-15 22:17:26
matvey(金币+20): 2011-09-16 13:41:27
爱与雨下(金币+1): ~ 2011-09-15 22:17:26
matvey(金币+20): 2011-09-16 13:41:27
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呵呵，某不才，过来献丑。 此处提到的X射线荧光分析（XRF）用于分析PM10（空气动力学直径≤10 μm的可吸入颗粒物）颗粒、细粒（<2.5 μm）和粗粒（2.5~10 μm），这些颗粒由用于源解析研究的膜过滤器所捕获。根据设计，取样器这些颗粒依据的是粒径范围，由颗粒的惯性流特征所引起的，简化了X射线分析。仪器是商业用的Kevex EDX-771能量散射X射线分析仪，利用选定标靶或荧光剂的次激发原理，并使用很薄的金属箔片和多种盐为44种化学元素进行校正。光谱由菜单操作获取，并可保存起来，用于离线处理。光谱反褶积处理可用最小二乘法完成，该法适于处理谱图库中保存的纯元素光谱以及样品谱图分析时的背景。X射线衰减校正可用于细粒层和个别粗粒分散的调整。根据校准过程中确定的负系数，可以消除光谱干涉。检测限可由误差传递确定。在传递过程中，源自所有测量值的误差值都可以计算出来，或者适当估算出来。所有样品数据都以ng/m3为单位记录下来。要求全面质量控制措施为范围广泛的参数、激发条件和元素提供数据。 |
3楼2011-09-15 22:11:24
50