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明光木虫 (著名写手)
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[求助]
请教纳米的结构密度表征的问题
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我在在单晶硅上制备了非晶硅结构，其尺寸为15nm x 15nm x 5nm（长x宽x高），现打算采用相关设备测量其密度。 请问什么样设备或方法可以直接测密度呢？ 有人说可以用微区拉曼，从所测晶格常数的微小变化，可以推知凸起结构的疏松程度；但是拉曼的检测深度在微米量级，如何避开基底的影响呢？ 谢谢！ |
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