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宏hong木虫 (正式写手)
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[求助]
MS中Castep，计算绝缘体的一些设置问题
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目前，我用Castep优化绝缘体元胞bulk，在electronic/more/scf 设置页中，有一个选项，fix occupancy。我查看了帮助文件，当只有计算的是绝缘体或闭合壳层体系时，这个可以选上。因此我对这个测试了一下，当不勾选这项时，计算的带隙是1.37ev，表面为绝缘体，但是我勾选了这项时，反而没有带隙了，感觉很奇怪。 请问这个怎么解释？这个选项的意义是什么？  |
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【答案】应助回帖
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宏hong(金币+5): 2011-06-04 09:57:11
zzy870720z(金币+2): 谢谢指教 2011-06-04 14:22:02
gzqdyouxia(金币+2, 1ST强帖+1): 谢谢详细指教！ 2011-08-13 10:49:28
宏hong(金币+5): 2011-06-04 09:57:11
zzy870720z(金币+2): 谢谢指教 2011-06-04 14:22:02
gzqdyouxia(金币+2, 1ST强帖+1): 谢谢详细指教！ 2011-08-13 10:49:28
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我先纠正一下：带隙宽度大于3ev时为绝缘体，大于等于1小于3时为半导体，小于1时为导体。 fix occupancy 的应用要结合Setup-metal，当选择metal时意味着计算的物质是导体，此时就不能选择fix occupancy ，可以对空带进行设置，因为若是计算的材料是导体的话，在计算过程中计算机会在费米能级附近的计算更加细致，或者说是进行更复杂的计算，此时修改一定的空带是为了使计算更准确或提高计算速度。 当不选择metal时 fix occupancy 就可以选择。根据我的经验如果计算的带隙宽为1.37ev最好在Setup-metal 选择上此项。 |
2楼2011-06-03 23:03:55
zdsk
木虫 (正式写手)
- 应助: 5 (幼儿园)
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3楼2011-08-12 19:39:12
